Библиотека диссертаций Украины Полная информационная поддержка
по диссертациям Украины
  Подробная информация Каталог диссертаций Авторам Отзывы
Служба поддержки




Я ищу:
Головна / Фізико-математичні науки / Фізика напівпровідників і діелектриків


405. Юркович Наталія Василівна. Моделювання та фізичні властивості модифікованих структур на основі склоподібних халькогенідів германія: дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.10 / Ужгородський національний ун-т. - Ужгород, 2004.



Анотація до роботи:

Юркович Н.В. Моделювання та фізичні властивості модифікованих структур на основі склоподібних халькогенідів германія.- Рукопис.

Дисертація на здобуття наукового ступеня кандидата фізико-математичних наук за спеціальністю 01.04.10 – фізика напівпровідників та діелектриків. – Ужгородський національний університет, Ужгород, 2004.

Дисертаційна робота присвячена моделюванню формування тонкоплівкових неоднорідних структур на основі склоподібних халькогенідів германія з модифікаторами Al, Bi, Pb, Te, дослідженню їх фізичних властивостей та властивостей об’ємних стекол (GeS(Se)2)1-xТеx. Формування тонкоплівкових структур на основі склоподібного Ge2S3 з модифікаторами Al, Bi, Pb, Te описано системою нелінійних диференціальних рівнянь з враховуванням атомного потоку модифікатора, структурної неоднорідності склоподібної матриці (наявність вакансій, мікропор) та дифузії частинок. Проведено дослідження фізичних властивостей тонкоплівкових структур 2S3:X> (X - Al, Bi, Pb, Te), визначено їх оптичні параметри еліпсометричним та спектрофотометричним методами. По мірі збільшення концентрації введеного модифікатора край власного поглинання зміщується в довгохвильову область спектру, зменшується ширина псевдощілини. Досліджено фізичні властивості модифікованих об’ємних структур з Те при зміні механізму входження модифікатора в матриці GeS2, GeSe2: домішкові атоми Те (1-3 ат.%) є електрично неактивними і не приводять до появи домішкової провідності. Із збільшенням концентрації Те максимуми у спектрах збудження фотолюмінесценції зсуваються у низькоенергетичну область спектру, що вказує на зв’язок процесу збудження фотолюмінесценції з оптичними переходами, в яких беруть участь локалізовані стани в хвості дозволених зон.

В електронно-дефектній підсистемі проявляються зміни фізичних власти-востей об’ємних і тонкоплівкових структур, що є наслідком різних механізмів входження модифікатора в некристалічні матриці та основою керованої зміни параметрів функціональних елементів для мікро- і оптоелектроніки.

З метою виявлення нових і встановлення загальних закономірностей поведін-ки домішок - модифікаторів в неоднорідних тонкоплівкових і об’ємних структурах, одержаних на основі склоподібних халькогенідів германія, проведено комп’ютерне моделювання та комплекс експериментальних досліджень фізичних властивостей, результати яких дали змогу зробити наступні висновки:

  1. Розроблено комп’ютерну модель формування неоднорідних структур із заданим розподілом концентрації модифікатора по товщині плівки на основі склоподібного Ge2S3. Формування неоднорідної градієнтної структури описано нелінійними диференціальними рівняннями, які враховують динаміку числа частинок модифікатора за рахунок джерела атомного потоку, структурну неодно-рідність матриці (наявність вакансій, мікропор) та дифузію частинок.

  2. Експериментально підтверджено прогнозований розподіл модифікатора по товщині плівки в градієнтних структурах 2S3:X> (X-Al, Bi, Pb, Te), одержаних методом термічного випаровування у вакуумі. Концентраційний розподіл складових компонент, досліджений методом масспектроскопії пост-іонізованих нейтральних частинок, узгоджується з прогнозуванням профілю градієнтної структури.

  3. Виявлено, що шорсткість склоподібної матриці Ge2S3 cтановить 0.5 нм. Шорсткість модифікованих структур з Al (2 ат.%), Bi (14 ат.%), Pb (12 ат.%) складає 17 нм, а для плівки 2S3:Те> (Те 30,7 ат.%) - досягає ~37 нм. Механізм конденсації у структурах з алюмінієм і телуром проходить по типу пара-тверда фаза, у структурах з свинцем і вісмутом - пара-рідина-тверда фаза з коалесценцією.

  4. Показано, що по мірі збагачення тонкоплівкових структур 2S3:X> (X - Al, Bi, Pb, Te) модифікатором край поглинання зміщується в довгохвильову область спектру, зменшується нахил краю поглинання та ширина псевдощілини. Визначені оптичні параметри модифікованих тонкоплівкових структур еліпсометричним і спектрофотометричним методами.

  5. Встановлено, що домішкові атоми Те (1-3 ат.%) в склоподібних GeS2 i GeSe2 є електрично неактивними і не приводять до появи домішкової провідності, що узгоджується з моделю насичених зв’язків. Натомість введення телуру у склоподібні дихалькогеніди германія приводить до зсуву краю власного поглинання і максимумів у спектрах фотолюмінесценції та спектрах збудження фотолюмінесценції в низькоенергетичну область спектру, що обумовлено зростанням концентрації локалізованих станів на краю дозволених зон.

  6. Зміни в електронно-дефектній підсистемі об’ємних та тонкоплівкових структур проявляються у зміні їх фізичних властивостей і можуть бути наслідком різних механізмів входження домішки в некристалічні матриці (введення в розплав Te під час синтезу скла (GeS(Se)2)1-xTex, сумісне напилення матриці склоподібного Ge2S3 і елементу-модифікатора Te (Al, Bi, Pb)) та служить основою керованої зміни параметрів функціональних структур для потреб мікро – і оптоелектроніки.

Публікації автора:

  1. Микуланинець С.В., Миголинець І.М., Попович І.І., Шаркань Й.П., Шовак І.І., Юркович Н.В. Вивчення процесів термічного випаровування стекол системи Ge-S i Ge-Sb-S-J // Вопросы атомной науки и техники.-1998.-Вып.4(5).-С.111-113.

  2. Shovak I.I., Migolinets I.M., Pinzenik V.P., Chereshnya V.M., Yurkovich N.V. Electrical and optical properties of thin films layers with chalcogenide gradient structure // Functional Materials.-1999.-Vol.6, №3.-P.493-496.

  3. Шовак І.І., Юркович Н.В., Миголинець І.М., Лада А.В., Пинзеник В.П. Електрорушійна сила і фотовольтаїчний ефект у неоднорідних плівках Ge2S3+Al (Bi) // Український фізичний журнал.-2000.-Т.45, №6.-С.728-730.

  4. Юркович Н.В., Росола І.Й., Миголинець І.М., Лада А.В. Вплив концентрації модифікатора на край власного поглинання структур змінного складу Ge2S3 + Bi (Pb, Те) // Фізика і хімія твердого тіла.-2001.-Т.2, №4.-С.669-672.

  1. Юркович Н.В., Мар’ян М.І., Миголинець І.М.. Модель формування неоднорідних модифікованих структур на основі склоподібного Ge2S3 // Український фізичний журнал.-2004.-Т.49, №10.-С.1010-1013.

  2. Блецкан Д.І., Юркович Н.В., Кабацій В.М., Митровцій І.М., Миголинець І.М., Січка М.Ю. Оптичні властивості і ЕПР стекол GeS2 i GeSe2, модифікованих телуром // Науковий Вісник Ужгородського університету. Серія Фізика.-1999.-№5.-С.170-177.

  3. Юркович Н.В., Мар’ян М.І., Миголинець І.М. Структурні неоднорідності некристалічних матеріалів та їх моделювання в наближенні білого шуму // Науковий Вісник Ужгородського університету. Серія Фізика.-2000.-№6.-С.164-168.

  4. Юркович Н.В. Фізичні властивості модифікованих структур на основі склоподібного Ge2S3 // Науковий Вісник Ужгородського університету. Серія Фізика.-2003.-№13.-С.46-51.

  5. Юркович Н.В., Миголинець І.М., Лада А.В., Лоя В.Ю. Одержання та дослідження фотоелектричних властивостей градієнтних структур на основі склоподібного Ge2S3 // Тонкие пленки в электронике МСТПЭ-12.- Харьков.-2001.- C.94-95.

  6. Юркович Н.В., Лада А.В., Лоя В.Ю., Миголинец И.М., Крафчик С.С., Пагулич О.И. Особенности получения неоднородных структур Ge2S3+Al (Bi, Pb, Te) заданным распределением компонент // Сборник докладов 14-го Международного симпозиума «Тонкие пленки в оптике и электронике».-Харьков: ННЦ ХФТИ.- 2002.-С.138-139.

  7. Юркович Н.В., Миголинец И.М., Лада А.В., Лоя В.Ю., Литвин П.М., Пагулич О.И. Морфология поверхности неоднородных модифицированных структур на основе стеклообразных халькогенидов германия // Сборник докладов 15 Международного симпозиума «Тонкие пленки в оптике и электронике» Харьков: ННЦ ХФТИ.-2003.-С.202-203.

  8. Юркович Н.В., Шовак І.І., Миголинець І.М., Лада А.В., Пинзеник В.П. Фотовольтаїчний ефект в неоднорідних плівках 2S3+Al (Bi)> // Збірник тезисів “Міжнародна науково-практична конференція з фізики конденсованих систем”.-Ужгород.-1998.-С.110-111.

  9. Shovak I.I., Migolinets I.M., Pinzenik V.P., Chereshnya V.M., Yurkovich N.V. Electrical and optical properties of thin chalcogenide films with gradient of composition // Abstracts ”Physics and technology of nanostructured multicomponent materials”.-Uzhgorod.-1998.-P.63.

  10. Mar’yan M., Yurkovich N., Kikineshy A. Influence white noise on dissipative structure formation // Third Inter. Scool-Conf. Of PPMSS’99.- Chernivtsі.-1999.- P.190.

  11. Юркович Н.В., Росола І.Й., Миголинець І.М., Лада А.В. Вплив концентрації модифікатора на край власного поглинання структур змінного складу Ge2S3+Bi (Pb, Те) // VІII Міжнародна конференція з фізики і технології тонких плівок.- Івано-Франківськ.-2001.-С.207-208.

  12. Юркович Н.В., Миголинець І.М., Романюк В.Р., Лада А.В., Лоя В.Ю. Оптичні властивості неоднорідних модифікованих структур на основі склоподібного Ge2S3 // ІХ Міжнародна конференція “Фізика і технологія тонких плівок”.-Івано-Франківськ.-2003.-Т.2.-С.133.