Публікації автора:
1. Хаханов В.И., Егоров А.А., Зайченко С.А., Обризан В.И., Каминская М.А. Механизм ассерций для функциональной верификации проектируемых цифровых систем // АСУ и приборы автоматики. – 2005. – №131.– C. 147–157. 2. Сысенко И.Ю., Побеженко И.А., Побеженко В.В., Егоров А.А. Средства верификации цифровых проектов на основе программируемой логики // АСУ и приборы автоматики. – 2003. – № 122. – С. 36–44. 3. Хаханов В.И., Егоров А.А., Хаханова И.В., Гузь О.А. Co-design технология проектирования SOC на основе Active-HDL 6.2 // Радиоэлектроника и информатика. – 2004. – №2. – C. 76–80. 4. Хаханов В.И., Каминская М.А., Егоров А.А., Побеженко И.А. Повышение качества теста на основе технологии Boundary Scan // Радиоэлектроника и информатика. – 2004. – №3. – C. 85–90. 5. Хаханов В.И., Зайченко С.А., Егоров А.А. Анализ быстродействия базовых операций в дедуктивном методе моделирования неисправностей // АСУ и приборы автоматики. – 2004. – № 127. – С. 138–148. 6. K. Mostovaya, O. Yegorov, Le Viet Huy Software Test Strategies // Proceedings of the 3rd East-West Design and Test Workshop.– Odessa, Ukraine, 2005. – P. 266–267. 7. Hahanov V., Egorov A., Melnikova O., Obrizan V., Kamenuka E., Krapchunova O., Guz O. Advanced software tools for fault simulation and test generation // Proc. East-West Design and Test Workshop. – Yalta, 2003. – C. 77–82. 8. Егоров А.А., Горбунов Д.М., Черкашин А.В. BDP-метод анализа дефектов сверхсложных цифровых систем // Материалы 7-го Международного молодежного форума "Радиоэлектроника и молодежь в 21 веке". – Харьков, 2003. – С.462. 9. Егоров А.А., Киященко А.В., Парфентий А.Н. HW-SW коверификация цифровых систем на кристаллах // Материалы 9-го международного молодежного форума "Радиоэлектроника и молодежь в 21 веке". – Харьков, 2005. – C. 542. 10. Горбунов Д.М., Мирошниченко Я.В., Егоров А.А. Технология моделирования и синтеза тестов для сложных цифровых систем // Материалы международной научной конференции "Теория и техника передачи, приема и обработки информации". – Харьков– Туапсе, 2003. – С. 20–21. 11. Olga Skvortsova, Oleksandr Yegorov, Dmitriy Gorbunov, Hayk Chamyan. TestBuilder – ATPG System for Digital Devices Based on FPGA // Proceedings of the 7-th International Conference "The Experience of designing and Application of CAD Systems in Microelectronics". – Lviv-Slavske, 2003. – P.412–416. 12. Горбунов Д.М., Мирошниченко Я.В., Егоров А.А., Крапчунова О.В. Технология моделирования и синтеза тестов для сложных цифровых систем // Материалы 16-й международной научно-технической конференции "Перспективные информационно-управляющие системы на железнодорожном, промышленном и городском транспорте". – Алушта, 2003. – C. 20–21. 13. Егоров А.А., Мирошниченко Я.В., Каменюка Е.А. Совместная верификация аппаратной и программной частей систем на кристалле (SOC), реализуемых на FPGA и CPLD // Тезисы докладов 10-й юбилейной международной научной конференции «Теория и техника передачи, приема и обработки информации».– Туапсе, 2004. – С.141–142. 14. Егоров А.А., Хаханова И.В., Обризан В.И., Мельникова О.В. Верификация цифровых систем на основе современных средств проектирования // Сборник докладов международной конференции «Единое информационное пространство».– Днепропетровск, 2004. – С. 173–176. 15. S. Hyduke, A.A. Yegorov, O.A. Guz, I.V. Hahanova. Co-design Technology of SOC Based on Active-HDL 6.2 // Proceedings of the 2nd East-West Design and Test Workshop 2004. – Alushta, Ukraine.– 2004. – P. 227–233. 16. O. Yegorov, V. Obrizan, M.K. Shahzad, O. Guz. FPGA SoC Hardware/Software Co-Simulation // Proceedings of the Work in Progress Session.– EuroMicro.– Rennes, France.– 2004.– Р.11. 17. Alexandr Yegorov, Irina Hahanova, Olga Melnikova, Vladimir Yeliseyev. Eda-Market and Soc Design Verification Technologies // Proceedings of the 8th International Conference CADSM 2005. – Lviv, Ukraine, 2005. – P. 352–355. 18. V. Hahanov, O. Yegorov, S. Zaychenko, A. Parfentiy, M. Kaminska, A. Kiyaschenko. Assertion-based Mechanism for the Functional Verification of the Digital Designs // Proceedings of the 3rd East-West Design and Test Workshop. – Odessa, Ukraine, 2005. – P. 261–265. |