Бойчук Вадим Александрович. Многоаспектный метод и алгоритмы генерации тестов комбинированного диагностирования микропроцессорных устройств: Дис... канд. техн. наук: 05.13.05 / Технологический ун-т Подолья. - Хмельницкий, 2000. - 173 л. - Бібліогр.: л. 130-140.
|